德國(guó)EL-CELL電極測(cè)試模塊PAT-Tester-i-16產(chǎn)品介紹

內(nèi)部阻抗分析儀能夠同時(shí)記錄半單元阻抗。直觀，易于使用，但功能強(qiáng)大的實(shí)驗(yàn)生成器使電池研究初學(xué)者能夠設(shè)置所有常見(jiàn)測(cè)試，如CCCV循環(huán)，伏安法和阻抗測(cè)量。強(qiáng)大的腳本語(yǔ)言允許有經(jīng)驗(yàn)的科學(xué)家建立幾乎任何類(lèi)型的電池測(cè)試。所有測(cè)試通道都具有開(kāi)關(guān)矩陣，用于在半連接和全電池測(cè)量之間進(jìn)行軟件控制切換，無(wú)需重新連接任何電纜。很先進(jìn)的圖形功能允許用戶使用任何存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫(kù)的實(shí)驗(yàn)來(lái)查看和比較運(yùn)行實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)。

PAT-Tester-i-16將溫度控制的電池室和對(duì)接站與電池測(cè)試儀集成到一個(gè)儀器中。

16個(gè)PAT系列測(cè)試單元的獨(dú)立通道每個(gè)通道具有全功能恒電位儀/恒電流/阻抗分析儀集成Peltier溫度控制，溫度范圍為+5至+ 80°C

支持的功能：

C：充電/放電/阻抗所有測(cè)試電池功能支持

T：溫度控制一些測(cè)試單元的功能不完支持

P：氣壓

顏色：

藍(lán)：支持所有測(cè)試單元功能

灰：一些測(cè)試單元格功能不完支持

黑：測(cè)試單元不兼容

測(cè)試容量高達(dá)16個(gè)測(cè)試單元數(shù)據(jù)記錄儀同時(shí)記錄半電池電壓和傳感器信號(hào)（例如溫度，壓力附加功能多通道恒電流/恒流/阻抗分析儀; 溫度控制室（Peltier）

PAT兼容性表